Наименование: Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891 САГ

Назначение: измерение спектральных зависимостей оптических параметров поверхностных структур, определение оптических и структурных свойств материалов и толщин тонкопленочных слоев.

Характеристики:

• принцип работы основан на анализе амплитудных и фазовых изменений световой волны при ее взаимодействии с исследуемым объектом;
• спектральный диапазон — 350…1100 нм.

Производитель:  НПК «Центр нанотехнологий», Россия

Год выпуска: 2008.