«Je pense, donc je suis»
«Cogito ergo sum»

«Я мыслю, следовательно, я есмь»
Р. Декарт, 1637

ТМАSDTНаименование: Прибор термомеханического и дифференциального термического анализа ТМА/SDTA841

Назначение: изучение свойств материала на основе данных об изменении линейных размеров в зависимости от температуры, предназначен для определения КЛТР, температуры начала размягчения, температуры стеклования, теплостойкости.

Характеристики:

  • диапазон температур исследования от – 150 °С до + 600 °С;
  • точность измерения температуры 0.5 град,  диапазон измеряемых смещений +/- 5 мм, разрешение 0.6 нм;
  • диапазон нагрузок  -0,1…1,0 н.

Производитель: Mettler Toledo, Швейцария

Год выпуска: 2008.

VEGAНаименование: Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 LMH с системой рентгеновского  энергодисперсионного  микроанализа  Oxford Instruments  INCA Energy 250/X-max 20

Назначение: изучение структурно-текстурных особенностей и химического состава неорганических веществ (минералов и горных пород).

Характеристики:

Производитель:  TESCAN, Czech Republic

Год выпуска: 2011.

Микроскоп HiroxНаименование: Цифровой оптический 3D-микроскоп Hirox KH-7700

Назначение: получение оцифрованных оптических изображений объектов и выполнения измерений по трем координатам.

Характеристики:

  • бесконтактные измерения по трем осям;
  • оптическое увеличение до 7000х;
  • синтез и сравнение изображений;
  • запись потокового видео (30 кадров в секунду);
  • 3D-обзор (360°) с изменяемым углом наблюдения от 25° до 55°;
  • инспекция при изменяемых углах освещения, при дифференциально-интерференционном контрасте, темном и светлом поле, в поляризованном свете;
  • послойное фотографирование с последующим cинтезом слоев для получения сфокусированного изображения глубокого рельефа (3D-реконструкция);
  • автоматизация фокусировки, мультифокусировки, послойного сканирования и измерения высоты;
  • возможность маркировки групп объектов на «живом» и/или захваченном изображении (до 16-ти групп).

Производитель: HIROX, Япония.

Год выпуска: 2008.

интерферометр New View 5010Наименование: Оптический интерферометр-профилометр New-View 5010

Назначение: предназначен для измерения характеристик топологии поверхности.

Характеристики:

  • вертикальное разрешение от 0.1 нм;
  • горизонтальное разрешение от 0.5 мкм;
  • max увеличение x4000.

Производитель: Zygo (США).

Год выпуска: 2001

Элементный анализаторНаименование: Элементный анализатор VARIO EL CUBE

Назначение: универсальный элементный анализатор нового поколения для определения содержания элементов углерода, водорода, азота, серы, кислорода и хлора (C, H, N, O, S) в органических и большинстве неорганических образцов.

Характеристики:

  • элементный анализ для элементов CHNS/  CNS/  CHN/  CN/  N или S в пробе. Есть дополнительная возможность анализа кислорода, при использовании набора для анализа кислорода;
  • каталитическое окисление пробы в кварцевой трубке, разделение получаемых в результате окисления газов, детектирование на катарометр;
  • масса пробы для анализа примерно от 1 мг до 50 мг органических веществ или до 600 мг веществ с высокой зольностью (почва, грунт), в зависимости от вещества;
  • динамический диапазон измерений: С: от 0 до 40 мг или до 100%, Н: от 0 до 3 мг или до 100%, N: от 0 до 15 мг или до 100%, S: от 0 до 6 мг или до 100%;
  • точность не более 0,1% от абсолютной величины при одновременном определении СНN или CHNS в 2 мг сульфаниловой кислоты или ацетанилида;
  • продолжительность анализа (зависти от содержания элементов и навески образца) CHNS примерно 10 мин при 5 мг пробы. 

Производитель:  Elementar (Германия).

Год выпуска: 2016.

Свидетельство о поверке: № АА 3413838 / 08846 до 18 декабря 2018 г.

Shimadzu AGX Plus 1Наименование: Электромеханическая универсальная испытательная машина Shimadzu AGX-Plus

Назначение: проведение механических испытаний материалов на одноосное сжатие, растяжение, 3-х и 4-х точечный изгиб.

Характеристики:

  • максимальное усилие 300 кН;
  • возможность использования контактных экстензометров и встроенного видео-экстензометра;
  • температурная камера с диапазоном температур -75 оС – 320 оС.

Производитель: Shimadzu Япония.

Год выпуска: 2014

Свидетельство о поверке: № 13/77608 от 18 декабря 2018г

 

 

zwik100Наименование: Машина универсальная испытательная Zwick Z100/SN5A

Назначение: проведение механических квазистатических испытаний  на одноосное растяжение, сжатие, ползучесть, 3-х и 4-х точечных изгиб.

Характеристики:

  • максимальное усилие на сжатие 100 кН;
  • скорость перемещения траверсы 0.001-600 мм/мин;
  • возможность использования контактных экстензометров.
  • датчики силы на 1 кН и 100 кН с ценой единицы отсчета 0,0008 Н и 0,008 Н;
  • возможность использования температурной камеры от -80 до +250 0С.

 

Производитель: Zwick Roell AG, Германия

Год выпуска: 2005

ZwickZ 250 kN 1Наименование: Машина универсальная испытательная Zwick/Z 250

Назначение: проведение механических испытаний горных пород на одноосное сжатие и ползучесть.

Характеристики:

  • максимальное усилие на сжатие 250 кН;
  • скорость перемещения траверсы 0.001-600 мм/мин;
  • возможность использования контактных экстензометров.

Производитель: Zwick Roell AG, Германия

Год выпуска: 2002

Свидетельство о поверке: №13/38147 от 03.07.2018

машина Bi 00 100 1Наименование: Серво-гидравлическая испытательная машина Bi-00-100

Назначение: проведение механических квазистатических и усталостных испытаний материалов на одноосное растяжение, сжатие, 3-х и 4-х точечных изгиб.

Характеристики:

  • максимальное усилие на сжатие 100 кН;
  • предельная частота циклирования 50 Гц;
  • возможность использования контактных экстензометров.

Производитель: Biss, Индия

Год выпуска: 2010

Свидетельство о поверке: № 13/77577 от 18 декабря 2018г

Shimadzu USF 2000 1Наименование: Ультразвуковая усталостная испытательная машина Shimadzu USF-2000

Назначение: проведение усталостных испытаний металлов и сплавов с частотой нагружения 20 кГц, что позволяет достичь базу нагружения 109-1010 циклов за несколько дней, в отличие от традиционных испытательных машин.

Характеристики:

  • частота нагружения: 20 кГц ± 500Гц (частота нагружения определяется по резонансной частоте колебаний образца);
  • амплитуда смещений: от ±10 до  ±50 мкм;
  • погрешность датчика перемещений 0,5 мкм.

Производитель: Shimadzu, Япония

Год выпуска: 2012