- Категория: ЦКП «Исследования материалов и вещества»
- Просмотров: 5255
Наименование: Оптический интерферометр-профилометр New-View 5010
Назначение: предназначен для измерения характеристик топологии поверхности.
Характеристики:
- вертикальное разрешение от 0.1 нм;
- горизонтальное разрешение от 0.5 мкм;
- max увеличение x4000.
Производитель: Zygo (США).
Год выпуска: 2001
- Категория: ЦКП «Исследования материалов и вещества»
- Просмотров: 4918
Наименование: Цифровой оптический 3D-микроскоп Hirox KH-7700
Назначение: получение оцифрованных оптических изображений объектов и выполнения измерений по трем координатам.
Характеристики:
- бесконтактные измерения по трем осям;
- оптическое увеличение до 7000х;
- синтез и сравнение изображений;
- запись потокового видео (30 кадров в секунду);
- 3D-обзор (360°) с изменяемым углом наблюдения от 25° до 55°;
- инспекция при изменяемых углах освещения, при дифференциально-интерференционном контрасте, темном и светлом поле, в поляризованном свете;
- послойное фотографирование с последующим cинтезом слоев для получения сфокусированного изображения глубокого рельефа (3D-реконструкция);
- автоматизация фокусировки, мультифокусировки, послойного сканирования и измерения высоты;
- возможность маркировки групп объектов на «живом» и/или захваченном изображении (до 16-ти групп).
Производитель: HIROX, Япония.
Год выпуска: 2008.
- Категория: ЦКП «Исследования материалов и вещества»
- Просмотров: 6081
Наименование: Сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 LMH с системой рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Oxford Instruments INCA Energy 250/X-max 20
Назначение: изучение структурно-текстурных особенностей и химического состава неорганических веществ (минералов и горных пород).
Характеристики:
Производитель: TESCAN, Czech Republic
Год выпуска: 2011.
- Категория: ЦКП «Исследования материалов и вещества»
- Просмотров: 4666
Наименование: Прибор термомеханического и дифференциального термического анализа ТМА/SDTA841
Назначение: изучение свойств материала на основе данных об изменении линейных размеров в зависимости от температуры, предназначен для определения КЛТР, температуры начала размягчения, температуры стеклования, теплостойкости.
Характеристики:
- диапазон температур исследования от – 150 °С до + 600 °С;
- точность измерения температуры 0.5 град, диапазон измеряемых смещений +/- 5 мм, разрешение 0.6 нм;
- диапазон нагрузок -0,1…1,0 н.
Производитель: Mettler Toledo, Швейцария
Год выпуска: 2008.
- Категория: ЦКП «Исследования материалов и вещества»
- Просмотров: 4798
Наименование: Прибор совмещенного термогравиметрического анализа и дифференциальной сканирующей калориметрии TGA/DSC 1/ 1100 LF
Назначение: качественная оценка термостойкости, количественного определения кинетических параметров процесса термодеструкции.
Характеристики:
Прибор оборудован встроенными высокоточными ультра-микровесами Mettler Toledo с пределом взвешивания до 5 г с дискретностью 0,1 мкг и уникальным двухканальным датчиком с шестью термопарами для увеличения чувствительности измеряемого сигнала.
Производитель: Mettler Toledo, Швейцария
Год выпуска: 2007.
- Категория: ЦКП «Исследования материалов и вещества»
- Просмотров: 4521
Наименование: Дифференциально-сканирующий калориметр DSC 882е/700
Назначение: Изучение свойств материала на основе измерения тепловых потоков в зависимости от времени и температуры, предназначен для количественных измерений при исследовании релаксационных и фазовых переходов, кинетики полимеризации.
Характеристики:
- прибор оборудован инфракрасным микроскопом HYPERION 1000 и модулем
- диапазон температур исследования от – 150 °С до + 700 °С в динамическом и изотермическом режиме;
- скорости нагрева от 0,01 до 300 град в мин.;
- величина тепловых эффектов +/- 350 мВт;
- разрешение сигнала ДСК 0,01/0,04 мкВт;
- количество термопар 56;
- цифровое разрешение: 16,8 миллионов точек.
Производитель: Mettler Toledo, Швейцария
Год выпуска: 2006.
- Категория: ЦКП «Исследования материалов и вещества»
- Просмотров: 5041
Наименование: ИК-Фурье-спектрометр Vertex 80V
Назначение: Метод основан на регистрации колебательных спектров молекул, что дает детальную информацию о состоянии молекул или функциональных групп в исследуемом образце. Обработку спектров проводят с помощью пакета прикладных программ ОРUS.
Характеристики:
- прибор оборудован инфракрасным микроскопом HYPERION 1000 и модулем отражения (НПВО с алмазным кристаллом однократного отражения на платформе QuickLock);
- базовый спектральный диапазон 7500-370см-1, базовое спектральное разрешение 0,2см-1;
- погрешность длины волны – 0.01см-1;
- светоделитель – KBr;
- детектор – RT-DLaTGS;
- лазер класса 2 с углом расхождения: 0.2мрад;
- интерферометр UltraScan cвоздушным подшипником;
- рабочая температура 18-35оС;
- вакуум 5мбар.
Производитель: Bruker, Германия
Год выпуска: 2006.
- Категория: ЦКП «Исследования материалов и вещества»
- Просмотров: 4586
Наименование: КР-Фурье-спектрометр Senterra.
Назначение: метод колебательной спектроскопии, позволяющий качественно определять структуру органических и неорганических соединений, материалов, анализировать наличие добавок.
Характеристики:
- спектральное разрешение 3см-1;
- спектральный диапазон 785 нм: 90-3200 см-1, 532нм: 80-4500 см-1;
- стабильность < 0.1 см-1RMS;
- дифракционная решетка: высокого и низкого разрешения.
Производитель: Bruker, Германия
Год выпуска: 2009.
- Категория: ЦКП «Исследования материалов и вещества»
- Просмотров: 4805
Наименование: ИК-Фурье-спектрометр IFS66/S
Назначение: метод колебательной спектроскопии, позволяющий качественно определять структуру органических и неорганических соединений, материалов, анализировать наличие добавок.
Характеристики:
- рабочий вакуум – 3мбар;
- частотный диапазон – 7500-350см-1;
- разрешение – 0.25см-1.
Производитель: Bruker, Германия
Год выпуска: 1999.
- Категория: ЦКП «Исследования материалов и вещества»
- Просмотров: 4987
Наименование: Тензиометр автоматический Sigma 701 в комплекте
Назначение: измерение объемных и поверхностных свойств жидкостей, контактного угла смачивания пористых сред, твердых тел и порошков.
Характеристики:
Виды измерений:
- измерение поверхностного и межфазного натяжения;
- измерения силы втягивания кольца Дю Нуа;
- непрерывные измерения поверхностного натяжения методом втягивающейся пластинки Вильгельми;
- определение критической концентрации мицеллообразования (CMC);
- измерение динамических контактных углов (DCA);
- определение смачиваемости порошков и пористых тел;
- измерение поверхностной свободной энергии твердых тел;
- измерение плотности жидкостей;
- определение кинетики седиментации.
Производитель: KSV Instruments LTD, Финляндия
Год выпуска: 2009.
Свидетельство поверки: № 71083 от 07.08.2009.